怎么測(cè)試介電常數(shù)和介質(zhì)損耗

1. 把S916測(cè)試夾具裝置上的插頭插入到主機(jī)測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
2. 在主機(jī)電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 主機(jī)配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時(shí)電感取100uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。
3. 被測(cè)樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當(dāng)材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm)，樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降，樣品要盡可能平整。（小于0.5mm的樣品測(cè)試，請(qǐng)參考附錄三，疊加測(cè)試法） 怎么測(cè)試介電常數(shù)和介質(zhì)損耗
4. 調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，使S916測(cè)試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設(shè)置為0。
5. 再松開(kāi)兩片極片，把被測(cè)樣品夾入平板電容上下極片之間，調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，直到平板電容極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時(shí)要用S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，以免夾得過(guò)緊或過(guò)松），這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D₂。改變主機(jī)上的主調(diào)電容容量（旋轉(zhuǎn)主調(diào)電容旋鈕改變主調(diào)電容電容量），使主機(jī)處于諧振點(diǎn)（Q值大值）上。
6. 取出S916測(cè)試夾具中的樣品，這時(shí)主機(jī)又失去諧振（Q值變小），此時(shí)調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，使主機(jī)再回到諧振點(diǎn)（Q值大值）上，讀取測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D_4.
7. 計(jì)算被測(cè)樣品的介電常數(shù):

     Σ＝D₂ / D₄

怎么測(cè)量介電常數(shù)？

可選用以下型號(hào)介電常數(shù)儀：

LJD-A型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀又稱介電常數(shù)測(cè)試儀、介質(zhì)損耗測(cè)試儀等。LJD-A型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。LJD-A型介電常數(shù)儀包含QBG-3（改進(jìn)型）高頻Q表，S916介質(zhì)損耗測(cè)試工具，LKI-1電感組，并且可以選配液體杯以用于測(cè)試液態(tài)絕緣材料。

LJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀又稱介電常數(shù)測(cè)試儀、介質(zhì)損耗測(cè)試儀等。LJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。LJD-B型介電常數(shù)儀包含QBG-3（改進(jìn)型）高頻Q表，S916介質(zhì)損耗測(cè)試工具，LKI-1電感組，并且可以選配液體杯以用于測(cè)試液態(tài)絕緣材料。

 LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到160MHz。、