介電常數介質損耗測試儀特點及應用

一、 介電常數測試方法與步驟

1. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

2. 陶瓷材料介電常數介質損耗測試儀GB/T1409在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。

3. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要盡可能平整。

4. 調節S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。

1. 再松開兩片極片，把被測樣品夾入平板電容上下極片之間，調節S916測試夾具的測微桿，直到平板電容極片夾住樣品止（注意調節時要用S916測試夾具的測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2。改變主機上的主調電容容量（旋轉主調電容旋鈕改變主調電容電容量），使主機處于諧振點（Q值大值）上。

2. 取出S916測試夾具中的樣品，這時主機又失去諧振（Q值變小），此時調節S916測試夾具的測微桿，使主機再回到諧振點（Q值大值）上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D4.

3. 計算被測樣品的介電常數:

     Σ＝D2 / D4

二、 介質損耗測試方法與步驟

1. 分布容量的測量

a) 選一個適當的諧振電感接到“Lx”的兩端；

b) 將調諧電容器調到大值附近500P左右，令這個電容是C1，

c) 按下儀器面板的頻率搜索鍵，使測試回路諧振，諧振時Q的讀數為Q1；

d) 將測試夾具接在“Cx”兩端，放入材料，測出材料厚度后取出材料，調節主調電容，使測試電路重新諧振，此時可變電容器值為C2，Q值讀數為Q2。

機構電容的有效電容為：Cz= C1－C2

分布電容為機構電容CZ和電感分布電容C0（參考電感的技術說明）的和

電容器損耗角正切為

公式里的C0只是電感的分布電容值，不是主機軟件顯示的C0 

2. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。

4. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要盡可能平直。

5. 調節S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。再松開兩片極片，把被測樣品夾入兩片極片之間，調節S916測試夾具的測微桿，到的平板電容極片夾住樣品止（注意調節時要用S916測試夾具的，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2，改變主機上的主調電容容量，使主機處于諧振點（Q值大值）上，然后按一次 主機上的小數點（tgδ）鍵，在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x，記住厚度D2的值。

6. 取出S916測試夾具中的樣品，（保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變）這時主機又失去諧振（Q值變小），再改變主機上的主調電容容量，使主機重新處于諧振點（Q值大值）上。

7. 第二次按下 主機上的小數點（tgδ）鍵，顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1，同時顯示介質損耗系數tn =．x x x x x ，即完成測試。

8. 出錯提示，當出現tn =  NO 顯示時，說明測試時出現了差錯，發生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。

附錄 一

LKI-1電感組

LKI-1型電感組共包括不同電感量的電感9個，凡儀器在進行測試線圈的分布電容量，電容器的電容量，高頻介質損耗，高頻電阻和傳輸線特性阻抗等高頻電路和元件的電性能時，必須用電感組作輔助工具。

本電感組有較高Q值，能使儀器測量時得到尖銳諧振點，因而增加其測量的準確度，各電感的有關數據如下表：

附錄 二

一、如何測試帶粘性超薄絕緣材料的介電常數

1 用錫箔紙覆膠在材料的兩面，上下層錫箔紙不能接觸。錫箔紙厚度為DX;(材料大小要和測試電極大小基本一致)

2 超薄材料需要疊加：疊加方式如下

                                   250μ貼合6層后測試；

200μ貼合8層后測試；

175μ貼合9層后測試；

125μ貼合12層后測試；

100μ貼合15層后測試；

75μ貼合20層后測試；

50μ貼合30層后測試。

3 計算公式 

  Σ＝(D2-2*DX)/D4

4 介質損耗系數測試同理